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簡(jiǎn)要描述：1000V離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。
更新時(shí)間：2024-05-14訪(fǎng) 問(wèn) 量：833廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家產(chǎn)品型號：HVUα_1000V| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 |
100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時(shí)計測も可能)
CH個(gè)別電源搭載&CH個(gè)別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加
CH個(gè)別電源搭載&CH個(gè)別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能
機械式リレーによるスキャンが無(wú)いので連続試験中の故障やトラブル無(wú)し
短絡(luò )検出回路のCH個(gè)別搭載で瞬間的なサンプル短絡(luò )にも追従
トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)
専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能
5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能
?電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他?電圧部品の絶縁信頼性評価。
メイン畫(huà)面
テキストデータ畫(huà)面
グラフ畫(huà)面
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対応OS：WindowsXp、7、8、10
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