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簡(jiǎn)要描述：日本J-RAS 500V離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。
更新時(shí)間：2024-05-14訪(fǎng) 問(wèn) 量：955廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家產(chǎn)品型號：| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 | 計測Channel數 | 10CH |
| 計測電阻值范圍 | 2kΩ~20TΩ | 試驗設定時(shí)間 | 1分～9999小時(shí) |
日本J-RAS 500V離子遷移實(shí)驗裝置用途
離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生（ ION MIGRATION ），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。（ ION MIGRATION TESTING ）
在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
適用規格 ： JPCA- - ET01- - 2001
500Vの印加電圧で試験可能！エレクトロケミカルマイグレーションテスター
絶縁抵抗測定器 ECM-500シリーズ
製品の特?
1V?500Vのワイド印加電圧&CH個(gè)別電圧出力で様々なサンプルの試験が可能
CH個(gè)別計測回路搭載により50msec/CHの高速スキャン処理
応答速度100nsec以下の瞬時(shí)リーク電流検出回路でリークタッチ現象を確実にキャッチ
最大100CHの筐體は小型軽量で場(chǎng)所を選ばず設置でき移設も容易
チャンバー扉開(kāi)の接點(diǎn)利用で緊急停止または一時(shí)停止を行える安全機能
はんだ付け作業(yè)の負擔を減らしミスを防ぐCH別カラーケーブルを採用
省電力の専用設計で130VAの省エネを実現(100CH実裝)
シンプルで使いやすい専用ソフトウェア
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