CAF試驗/CAF測試是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生（ ION MIGRATION ），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。

離子遷移試驗設備，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。

離子遷移實(shí)驗裝置 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。

離子遷移實(shí)驗裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。

離子遷移實(shí)驗裝置絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。

離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。