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高速抽樣處理
因離子遷移現象導致的電阻值變化如以下情況：
高速抽樣處理的情況：
抽樣處理慢的情況：
高速與普通處理，檢測結果有很大偏差：
全部通道同時(shí)抽樣處理：
多個(gè)通道同時(shí)發(fā)生離子遷移現象的情況如下：
單一AD掃描的話(huà)，與通道數成反比例，發(fā)生通道數越多越不準確。
每個(gè)通道都分別配有AD，可以同時(shí)監測所有通道。
J-RAS的模擬電路能夠防止枝晶燒損
●設備配有電流限制電路，即便枝晶短路，也不會(huì )給樣品輸入超范圍的電力。
●高速16msec的抽樣處理，及時(shí)檢出電阻值低下，把模擬電路的偏壓輸出功率及時(shí)停止。（根據判定條件設定）
高速、多通道同時(shí)抽樣，J-RAS能夠大量數據并行處理。
簡(jiǎn)而言之，J-RAS設備的高速、多通道并行處理，能夠更可靠的檢測出遷移現象。
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