高加速壽命試驗箱(Highly Accelerated Life Testing，簡(jiǎn)稱(chēng)HALT試驗)是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來(lái)揭示電子和機械裝配件設計缺陷和不足的過(guò)程。HALT的目的是在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。
高加速壽命試驗HALT一詞是Gregg K. Hobbs 于1988年提出的。是一種利用階梯應力加諸于試品，并在早期發(fā)現產(chǎn)品缺陷、操作設計邊際及結構強度極限的方法。
試品通過(guò)HALT所暴露的缺陷，涉及線(xiàn)路設計、工藝、元部件和結構等方面。HALT的主要目的是在產(chǎn)品設計和試產(chǎn)階段，通過(guò)試驗，快速發(fā)現產(chǎn)品的潛在缺陷，并加以改進(jìn)和驗證，從而增加產(chǎn)品的極限值，提高其堅固性及可靠性。施加于試品的應力，包括振動(dòng)、高低溫、溫度循環(huán)、電力開(kāi)關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等。
HALT試驗所延伸出的設計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現已成為美國電子業(yè)界的標準產(chǎn)品驗證方法。
它將原需花費6個(gè)月甚至1年的新產(chǎn)品可靠性試驗縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現的產(chǎn)品問(wèn)題幾乎與客戶(hù)應用后所發(fā)現的問(wèn)題一致，故HALT的試驗方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過(guò)的驗證。
在產(chǎn)品研制階段，為得出產(chǎn)品設計裕度和極限承載能力(破壞或損傷極限)而設計的一種試驗，它應用步進(jìn)的方法給產(chǎn)品施加環(huán)境應力并檢測其性能，直到產(chǎn)品失效為止。
為提高試驗效率，所施應力并非工作環(huán)境的模擬而是加速應力，通常為高變溫率(至少應大于25°C/min)的溫度循環(huán)和多軸隨機振動(dòng)，還包括有通電循環(huán)、電壓偏低、頻率偏差等電應力。高加速壽命試驗得到的應力極限值可以作為確定高加速環(huán)境應力篩選的應力量值的依據。
目前能進(jìn)行高加速壽命試驗的實(shí)驗室有環(huán)境可靠性與電磁兼容試驗服務(wù)中心、航天環(huán)境可靠性試驗與檢測中心等。
