日本J-RAS絕緣劣化試驗

日本J-RAS絕緣劣化試驗

離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000  小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。

產(chǎn)品優(yōu)勢  

1.簡(jiǎn)單/便利

△采用驅動(dòng)計測，測試時(shí)焊接工序大幅減少。

△軟件設計簡(jiǎn)單明了，能夠非常直觀(guān)得操作。

△配有過(guò)程中的記錄、報告相關(guān)的報表功能。

△測試中，設備可以單獨運行，電腦電源切斷也不受影響。

2.高性能&高機能

△因為每個(gè)通道都單獨配有電壓/計測電路，可以做到16ms的計測間隔。

→遷移現象的檢測能力更高，對產(chǎn)品品質(zhì)把控更精準。

△一臺電腦最大可以增設400通道。

△每個(gè)通道可以設定不同的電壓。

3.可靠性更高&操作更簡(jiǎn)潔

△具有自身診斷機能，把異常計測防范于未然。

△配有CF卡，以防設備故障數據丟失。

△每個(gè)單元獨立，其中一個(gè)單元損壞，可以單獨拆卸維修，而不影響其他通道使用。

△標準配置也可以接入1~300V的電壓范圍。

用途

△PCB板、焊接、樹(shù)脂、導電性粘著(zhù)劑、絕緣材料等電遷移測試。

△作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置，可以在多領(lǐng)域利用。

實(shí)例

△測試難度大的高阻值也能除去干擾，清晰得進(jìn)行測試。

△16msec的高速抽樣處理，不會(huì )漏掉任何一個(gè)數據。

△電容器等絕緣電阻的試驗也非常合適。

日本J-RAS絕緣劣化試驗