離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ) , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試(1 ～1000 小時(shí))并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生( ION MIGRATION ) , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。( ION MIGRATION TESTING )
在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
通過(guò)最大3000 V的直流偏置，為T(mén)DDB器件提供了高電壓、高電壓的離子遷移，并對器件進(jìn)行了絕緣。高壓電路板，高空隙件。
另外，HVUα系列還可以測試兩個(gè)機架和電池之間的太陽(yáng)系統漏電，HVUα系列可在每個(gè)通道上設置電壓50-3000V。
檢測絕緣退化征
納米鈉的TANS高性能檢測電路可實(shí)現瞬時(shí)電流的運動(dòng)和局部放電。
★在所有信道中都能檢測到絕緣性退化，如局部放電或瞬間短路，這是無(wú)法進(jìn)行數據采集的。
★它能夠在早期階段預測最終結果，并有可能提出下一步該做什么。
★可以通過(guò)顯示電阻圖和局部放電來(lái)找出瞬時(shí)絕緣降解和下降電阻的相關(guān)性。
精確輸入偏差
HVUα系列提供在每條通道上設置不同的輸入偏置，通過(guò)反饋輸入每個(gè)通道的偏置，HvUa系列可以在任何時(shí)候輸入正確的設定偏差。
用簡(jiǎn)化的測試儀，當絕緣電阻運動(dòng)時(shí)，實(shí)際的輸入偏置會(huì )發(fā)生變化，通過(guò)設定偏差和實(shí)際偏差的差異造成錯誤的評估。
高可靠性不使用機械繼電器
HVUα系列沒(méi)有機械式繼電器，這就是為什么它是故障的最主要原因。不穩定。HvUo系列在每個(gè)通道上都有電力和測量電路。
低噪聲測量有源保護電纜
使用主動(dòng)保護電纜，防止外界噪音。這是先進(jìn)的測量小電流(高電阻)比典型的屏蔽電纜。
此外，為了減輕高頻信號的衰減，將改善局部放電的檢測性能。
檢測每個(gè)通道上的快速檢測功能
HVUα系列在每條通道上都有短路的檢測電路，并在毫秒甚至3000伏的電壓下切斷偏置。HVUα?系列將不會(huì )輸入功率超過(guò)必要的NG樣品，并削減輸入偏置一旦輸入偏置電纜觸摸在沒(méi)有意圖的案件室。這是為了安全。
