Hast試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
廣泛應用于線(xiàn)路板、多層線(xiàn)路板、IC、LCD、磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其制品的耐壓性，氣密性。
加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間。
該設備作為檢測設備，怎樣保證試驗箱本身的穩定性?Hast試驗箱作為高標準、嚴要求的檢測設備，所以如何確保設備本身的穩定性成為企業(yè)發(fā)展的重中之重，今天就告訴各大企業(yè)保證設備穩定性三大要素。
一、選材
企業(yè)在制作Hast試驗箱時(shí)一定要選擇高品質(zhì)、高規格的材料。HAST老化試驗箱本來(lái)屬于溫度產(chǎn)品，那么所選材料必須要耐高低溫，抗老化。
二、零部件
一款穩定性高的HAST老化試驗箱的零部件，無(wú)疑是使用了進(jìn)口品牌。普通的零部件質(zhì)量無(wú)法得到保障，若是一臺檢測儀器零部件總是出現損壞，設備壽命也將大打折扣。
三、出廠(chǎng)之前的檢測
在Hast試驗箱出廠(chǎng)之前，一個(gè)注重品質(zhì)的企業(yè)，應當對設備做一個(gè)出廠(chǎng)檢測，測試產(chǎn)品的穩定性，記錄數據。時(shí)間應在三天或者一星期左右，只有確保無(wú)疑之后，才可發(fā)貨，
Hast試驗箱作為檢測設備，必須要保證本身的穩定性。因此，設備本身所用的一切材料配件都必須能經(jīng)得起試驗箱的考驗。
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